電子元器件的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)

 
電子元器件的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)
概 述
可靠性試驗(yàn)的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關(guān)的試驗(yàn)都可以稱為可 靠性試驗(yàn)。也可以說，為評價(jià)、分析電子元器件的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為電子元器件的 可靠性試驗(yàn)?？煽啃栽囼?yàn)的目的是考核電子元器件在運(yùn)輸、使用等情況下的可靠性。試 驗(yàn)條件必須是模擬電子元器件在運(yùn)輸、使用時(shí)的客觀條件，它就是對受試樣品施加一定的 應(yīng)力，諸如電氣應(yīng)力、氣候應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力或其綜合，在這些應(yīng)力的作用下，受試樣品反映 出其性能是否穩(wěn)定，其結(jié)構(gòu)狀態(tài)是否完整或是否有變形，從而判別其產(chǎn)品是否失效。第2 章介紹的電子元器件常用的可靠性試驗(yàn)是為完成特定的試驗(yàn)?zāi)康亩M(jìn)行的一整套試驗(yàn)。 當(dāng)時(shí)我們的重點(diǎn)在于介紹這一整套試驗(yàn)，對于這套試驗(yàn)中的各個(gè)具體試驗(yàn)沒有詳細(xì)介紹。
組成各種可靠性試驗(yàn)的最基本的試驗(yàn)叫做可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)，如高溫試驗(yàn)，振動掃頻試 驗(yàn)等，它們是獨(dú)立的試驗(yàn)，它們的不同組合便構(gòu)成不同的可靠性試驗(yàn)。